■ 平行光で分布の良い光を利用することで、拡散が少なく細かい検査対象でも写しだされます。 ■ 光沢のある表面のキズ検出に適しております。 （株）ワイ・イー・ブイ
IeV-X100反射光による外観検査装置（撮像）
