IeV-X100透過光による外観検査装置
IeV-X100透過光による外観検査装置
■ 平行光で分布の良い光を利用することにより画像処理能力を高めています。
■ 視野イメージは幅5~40です。
(株)ワイ・イー・ブイ
IeV-X100透過光による外観検査装置